在現(xiàn)代生產(chǎn)中針對(duì)不同對(duì)象選擇何種無(wú)損檢測(cè)方法已成為人們關(guān)注的問(wèn)題。為解決好這個(gè)問(wèn)題,就必須對(duì)無(wú)損檢測(cè)方法及其特征有較..的了解。下面簡(jiǎn)要介紹這些常用方法的特征,供有關(guān)同志參考。所謂無(wú)損檢測(cè),是在不損傷材料和成品的條件下研究其內(nèi)部和表面有無(wú)缺陷的手段。也就是說(shuō),它利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的異?；蛉毕莸拇嬖谒鸬膶?duì)熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,評(píng)價(jià)結(jié)構(gòu)異常和缺陷存在及其危害程度。

無(wú)損檢測(cè)的目的一般包括:定量掌握缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系,評(píng)價(jià)構(gòu)件的允許負(fù)荷以及壽命或剩余壽命;檢測(cè)在制造過(guò)程中產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)不完整性及缺陷等情況,以便改善制造工藝。它不僅涉及成品部件的試驗(yàn)評(píng)價(jià)也與設(shè)計(jì)、制造工藝直接相關(guān)。

無(wú)損檢測(cè)一般有三種簡(jiǎn)稱,即NDT,NDI和NDE。它們分別是無(wú)損檢測(cè)(NondestruetiveTest-ing)、無(wú)損檢查(NondestruetiveInspection)及無(wú)損評(píng)價(jià)(NondestructiveE、aluation)的英文縮寫(xiě)。目前大都稱無(wú)損檢測(cè)為NDT,實(shí)際上,近年已逐步從NDT和NDI過(guò)渡到NDE,也即用無(wú)損評(píng)價(jià)來(lái)代替無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損檢查。一方面是NDE包含廠NDI和NDT;另一方面NDE還具有更廣泛的內(nèi)容,因而要求無(wú)損檢測(cè)工作者有更廣的知識(shí)面、更扎實(shí)的基礎(chǔ)和更強(qiáng)的綜合分析能力。

一般說(shuō)NDT僅僅是檢測(cè)出缺陷,而NDI則以NDT檢測(cè)結(jié)果為判定基礎(chǔ),對(duì)檢測(cè)對(duì)象的使用可能性進(jìn)行判定,含有檢查的意味。而NDE則是指掌握使用材料的負(fù)載條件、環(huán)境條件(如斷裂力學(xué)中預(yù)測(cè)材料的..性及壽命等)綜合評(píng)價(jià)材料完整性、判斷材料及構(gòu)件的性能和可靠性的方法。就此而言,NDE可說(shuō)是材料評(píng)價(jià)的同義語(yǔ)。一般地說(shuō),無(wú)損檢測(cè)應(yīng)包括缺陷檢測(cè)(探傷)和材料其它性能檢測(cè)(如力學(xué)性能、顯微組織和應(yīng)力等)兩大方面。本文只介紹缺陷檢測(cè),即探傷方法的種類和特點(diǎn)。

1，檢測(cè)方法簡(jiǎn)介

1.1目視檢查(vT)

人的眼睛或借助于光學(xué)儀器對(duì)工業(yè)產(chǎn)品表面作直接觀察或測(cè)量的一種檢測(cè)方法（視檢測(cè)限制在電磁波的可見(jiàn)光范圍之內(nèi) ）。

1.1.1設(shè)備

內(nèi)窺鏡, 管道鏡、放大鏡、彩色增強(qiáng)器、直尺、干分卡尺、光學(xué)比較儀及光源等。

1.1.2用途

檢測(cè)表面缺陷、焊接外觀和尺寸。

1.1.3優(yōu)點(diǎn)

經(jīng)濟(jì)、方便、設(shè)備少,檢驗(yàn)員只需稍加培訓(xùn)。

1.1.4局限性

只能檢查外部即表面狀態(tài),要求檢驗(yàn)員視力好。

1.2 射線檢驗(yàn)法(RT)

射線檢測(cè)一般使用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法，是應(yīng)用.廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法之一。

1.2.1設(shè)備

射線探傷儀、底片夾、膠卷、射線鉛屏蔽、膠卷處理設(shè)備、底片觀察用光源、曝光設(shè)備以及輻射監(jiān)控設(shè)備等。